Technical Support
技术支持

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检测方案
检测平台
js33333线路登录首页官网建立了IGBT芯片和器件检测分析平台,I期投入超过1000万元引入进口设备和仪器,被认定为成 都市高新区“IGBT公共技术平台”。主要设备包括芯片全自动制样设备、高倍光学显微镜、扫描电子显微 镜、晶圆探针台、功率器件曲线追踪仪、功率器件动态测试机等,涵盖芯片微观结构、芯片/晶圆静态电学 参数、器件静态参数、动态参数、绝缘耐压等一系列项目测试,并且能够开展器件失效分析和逆向分析的 整套流程。
  • 高倍率金相显微镜
    可支持最高1000X下
    超景深光学显微观察
  • 扫描电子显微镜
    可进行30万倍放大观察,具有一体化能谱仪设计,
    应用于微区形貌成像及成份分析等
  • 晶圆探针台
    Taiko工艺专用探针台,
    支持最薄60um的8英寸晶圆产品测试
  • 功率器件曲线追踪仪
    对IGBT器件动态参数进行综合表征,
    筛选出动态不良品和参数不一致产品
  • 功率器件动态测试机
    对高功率器件静态电气参数进行综合表征,
    并可在高电压偏置时执行全自动电容测量
  • 高精度双脉冲测试平台
    对产品动态及短路参数进行精确测量,
    可满足不同测试环境要求
测试平台
js33333线路登录首页官网建立并不断拓展IGBT器件应用测试平台,以团队自主开发为主,投入超过500万元,先后开发了通用型老化测试平台(包括功率循环测试平台和高温反偏平台等)、80KW逆变并网及无功测试平台、变频器对拖测试平台、感应加热类应用测试平台等一系列针对不同用户和应用场景的测试平台,旨在保障器件在终端客户的使用和优化,追求产品性能和可靠性的精益求精。
  • 并网及无功测试平台
    模拟并网或者离网设备工况,
    测试IGBT器件在不同工况下的工作适应性
  • 变频器对拖测试平台
    进行变频器空载试验、调频、温升试验、负载试验、过载试验等,验证器件在变频器行业适配性能
  • 焊机应用测试平台
    对器件进行过流、过载实验、连续运行等测试,
    验证器件在焊机应用领域的适配性
  • 功率循环及热阻测试平台
    测试器件热阻参数,
    验证器件功率循环能力
  • HTRB、HTGB测试平台
    高温正向/反偏寿命试验,
    对器件进行可靠性测试